Oxitec 5000 O2 meting

Oxitec 5000 O2 meting

De Enotec oxitec 5000 O2 meting wordt toegepast om in-situ de zuurstofconcentratie te meten in diverse processen. Het basismeetprincipe: de met ytriumoxide gestabiliseerde ZrO2-meetcel is onder specifieke omstandigheden geleidend voor O2 -ionen. Bij een temperatuur van 20°C vindt er geen ionentransport plaats. Wanneer de halfgeleider verhit wordt tot temperaturen >750°C, neemt de geleidbaarheid voor de O2 -ionen exponentieel toe.

ZrO2 schijf

De opbouw van de meetcel bestaat uit een schijf ZrO2, met aan beide zijden poreus platina. Deze ZrO2 schijf is voor op de meetcel geplaatst, die van binnen uit op een temperatuur is gestabiliseerd. De ene zijde van de ZrO2-schijf staat in contact met het procesgas, de andere zijde met referentielucht. Omdat de concentratie zuurstof aan de proceszijde altijd anders is dan aan de referentielucht-zijde, vindt er ionen transport plaats van referentieluchtzijde naar proceszijde. Door de reactie aan het oppervlak aan beide zijden van de ZrO2-schijf en door het ionen transport ontstaat een EMK (Elektro Motorische Kracht) die omgekeerd logaritmisch evenredig is met de zuurstofconcentratie in het rookgas.

De algemene relatie voor het bepalen van de meetcel spanning staat bekend onder de naam: “Wet van Nernst”.